Ma B., Balachandran U., Xu Y., Efstathiadis H., Bhattacharya R., Lei C.H., Evans H., Manisha R., Massey M.
Li Y., Xiong X., Qiao Y., Xie Y., Reeves J.L., Chen Y., Lenseth K.P., Schmidt R.M., Selvamanickama V.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, buffer layers, template layers, long conductors, fabrication, length
Kim C.-J.(cjkim2@kaeri.re.kr), Jun B.-H., Choi J.-K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, template layers, buffer layers, RABITS process, IBAD process, comparison, fabrication, critical current, critical caracteristics
Iijima Y., Kakimoto K., Sutoh Y., Saitoh T.(tsaitoh@fujikura.co.jp), Hanyu S., Kaneko N.(nkaneko@fujikura.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, IBAD process, template layers, substrate Ni alloy, nanoscaled roughness, grain alignment, fabrication, coated conductors
Christen D.K., Thompson J.R., Feenstra R., Gapud A.A., Holesinger T.G.(tgholesinger@lanl.gov)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, texture, buffer layers, electrolysis, template layers, microstructure
Matias V., Jia Q.X., Wang H., Holesinger T.G., Ayala A.(ayala@lanl.gov), Clem P.G.(pgclem@sandia.gov), Foltyn S., Gibbons B.
Iijima Y., Kakimoto K.(kakimoto@rd.fujikura.co.jp), Saitoh T., Sutoh Y., Kaneko N.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, template layers, substrate Hastelloy, PLD process, coils solenoidal, reel-to-reel process, long conductors, current-voltage characteristics, critical current density, thickness dependence, tensile tests, bending process, experimental results, fabrication, power equipment, critical caracteristics, quality control
Saitoh T., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Kaneko N.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, IBAD process, template layers, texture, fabrication
Holzapfel B., Kursumovic A., Evetts J.E., Puig T., Obradors X., Pomar A., Sandiumenge F., Cavallaro A., Huhne R.(r.huehne@ifw-dresden.de)
Ключевые слова: HTS, substrate Ni-Mn, surface oxidation, template layers, buffer layers, PLD process, MOD process, fabrication
Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Coulter J.Y., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Maley M.P., Civale L.(lcivale@lanl.gov)
Koritala R.E., Fisher B.L., Baurceanu R., Dorris S.E., Miller D.J., Balachandran U., Berghuis P., Gray K.E., Ma B.(bma@anl.gov), Uprety K.K.
Kreiskott S., Arendt P.N., Foltyn S.R., Matias V., Dowden P.C., Coulter J.Y., Gibbons B.J., Sheehan C.J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, reel-to-reel process, IBAD process, template layers, buffer layers, PLD process, fabrication, magnetic properties
Saitoh T., Kakimoto K., Iijima Y.(ijm@rd.fujikura.co.jp), Sutoh Y., Ajimura S.
Thieme C., Goyal A., Specht E.D., Xu Y., Christen D.K., Thompson J.R., Cantoni C., Varela M., Pennycook S.J.
Kreiskott S., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Dowden P.C., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Civale L., Arendt P.N.(arendt@lanl.gov), Usov I.
Li M., Ma B., Koritala R.E., Fisher B.L., Markowitz A.R., Erck R.A., Baurceanu R., Dorris S.E., Miller D.J., Balachandran U.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, ISD process, PLD process, template layers, fabrication, magnetic properties
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.